テセックより周波数帯域15 Hz ~ 150 kHzでの低周波数障害、イミュニティ試験の新要求を満たす試験システムのご提供が可能になりました。
NSG 4060はEN 61326-3-1, IEC 61850-3, IEC 60255-22-7, IEC 60533/IEC 60945, IEC 61000-4-16 及び IEC 61000-4-19を含む現行規格に適合しています。
- 周波数帯域15 Hz ~ 150 kHzでの低周波数障害のイミュニティ試験
- EN 61326-3-1, IEC 61850-3, IEC 60255-22-7, IEC 60533/IEC 60945, IEC 61000-4-16 及び IEC 61000-4-19を含む現行試験規格に適合
- 33 Vまでの連続的レベル、IEC 61000-4-19は 22 V または 4.5 Aまでの試験
- IEC 61000-4-16短時間試験DC付き及び330Vまでの振幅用NSG 4060拡張ユニット（オプション）
電子機器の電磁妨害波等に対する排除能力（耐性）を評価するための試験システムです。イミュニティ試験に必要な信号発生器、パワーアンプシステム、電界強度計、パワーメータ、アンテナマスト等を自動で制御し、どなたでも効率良く確実に測定が行え、測定した結果のプリンタへの出力、HDD などへ保存することができます。
一般社団法人KEC関西電子工業振興センターなどで開発したシールド材料評価測定装置で、シート、またはフィルム状のシールド材料の透過損失を簡単に評価することができる装置です。
ユニットのノイズを測定するには、電波暗室での遠方電界強度を測定するか、TEM-CELL法のように比較的大型な簡易測定装置を使用するのが一般的です。
一方、半導体単体のノイズ測定法に関してはIECによって様々な評価方法が提案、検討されています。
NSG4070は、コンパクトな筐体に信号発生器、パワーメータ、アンプ、カップラーなどを内蔵することができます。
外付アンプを使用することも可能ですので、伝導イミュニティシステムとしてだけでなく放射イミュニティシステムとしても構成が可能です。
電子機器の高密度・高実装化を伴ったデジタル化・モバイル化が進み、ノイズ源の特定やEMC対策が今日難しくなってきています。
上限測定周波数の拡大など年々改訂される規格への対応、振る舞いが複雑化したノイズについて最大限でのデータ収集・保存が求められています。
電磁波ノイズに対する対策や規制はあらゆる
電子・電気機器におよび、その対策の難しさ・厳しさが増しています。
EPSシリーズは、プリント基板や部品、空間の電磁波を可視化することで製品の開発・技術に関わるエミッション(EMI)対策の時間を軽減させます。
